(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50441-2:1998-11
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of the geometric dimensions of semiconductor wafers - Part 2: Testing of edge profile
Пластины полупроводниковые. Определение геометрических размеров. Часть 2. Определение закругления кромки
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Messung der geometrischen Dimensionen von Halbleiterscheiben - Teil 2: Prüfung des Kantenprofils
5 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
83.05 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы