(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN EN 62417:2010-12
Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs) (IEC 62417:2010); German version EN 62417:2010
Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren auf mobile Ionen für Feldeffekttransistoren mit Metall-Oxid-Halbleiter (MOSFET) (IEC 62417:2010); Deutsche Fassung EN 62417:2010
9 стр.
Действует
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
107.62 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
31.200 Integrated. Including electronic chips, logical and analogue microstructures / Интегральные схемы. Микроэлектроника. Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры