(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN EN 60749-13:2003-04
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere (IEC 60749-13:2002); German version EN 60749-13:2002
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 13. Солевая атмосфера
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 13: Salzatmosphäre (IEC 60749-13:2002); Deutsche Fassung EN 60749-13:2002
8 стр.
Отменен
Электронный (pdf)Печатное изданиеПечатная копия
95.66 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом