Вход
Логин:
Пароль:
Запомнить меня
Отменить
Восстановление пароля
(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
Обозначение
Наименование
Действующие
Расширенный поиск
Запросить
стандарт
ФИО:
Организация:
Должность:
Город, адрес:
Телефон:
E-mail:
Откуда вы о нас узнали:
Запрос информации:
This site is protected by reCAPTCHA and the Google
Privacy Policy
and
Terms of Service
apply.
О компании
Каталог продукции
API
ARINC
ASME
ASNT
ASTM
AWS
AWWA
BSI
DIN
IEC
ISO
MSS
NACE
NFPA
ONORM
SAE
SSPC
Контакты
DIN EN 60749-13:2003-04
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere (IEC 60749-13:2002); German version EN 60749-13:2002
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 13. Солевая атмосфера
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 13: Salzatmosphäre (IEC 60749-13:2002); Deutsche Fassung EN 60749-13:2002
8 стр.
Отменен
Электронный (pdf)
Печатное издание
Печатная копия
Немец.:
95.66€
95.66 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Взамен:
DIN EN 60749:2002-09
Заменен на:
DIN EN IEC 60749-13:2018-10
Ссылочные документы:
DIN EN 60068-2-11:2000-02
DIN EN 60749-14:2004-07
IEC 47/1615/CDV:2002-03
DIN IEC 60068-2-11:1982-08
На это издание ссылаются:
© 2024 ООО «Нормдокс»
Карта сайта
www.normdocs.ru
тел.: (812) 309-78-59 (многоканальный)
тел.: (495) 223-46-76 (прямой московский номер)