(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN EN 60749-6:2017-11
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2017); German version EN 60749-6:2017
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 6: Lagerung bei hoher Temperatur (IEC 60749-6:2017); Deutsche Fassung EN 60749-6:2017
9 стр.
Действует
Электронный (pdf)Печатная копияПечатное издание
107.62 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом