(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN EN 62047-15:2012-11
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 15: Test method of bonding quality between PDMS and glass (IEC 47F/126/CD:2012)
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 15: Prüfverfahren zur Bondqualität zwischen PDMS und Glas (IEC 47F/126/CD:2012)
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
119.41 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN