(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50441-4:1999-03
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of the geometric dimensions of semiconductor wafers - Part 4: Slice diameter, diamter variation, flat diameter, flat length, flat depth
Пластины полупроводниковые. Определение геометрических размеров. Часть 4. Определение диаметра, отклонений диаметра, диаметра, длины и высоты плоского среза
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Messung der geometrischen Dimensionen von Halbleiterscheiben - Teil 4: Scheibendurchmesser, Durchmesservariation, Flatdurchmesser, Flatlänge, Flattiefe
8 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
104.17 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы