(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50455-1:1991-06
Testing of materials for semiconductor technology; methods for characterizing photoresists; determination of coating thickness with optical methods
Материалы для полупроводниковой технологии. Методы определения характеристик фоторезистов. Определение толщины покрытия оптическими методами
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Verfahren zur Charakterisierung von Fotolacken; Bestimmung der Schichtdicke mit optischen Meßmethoden
3 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
58.64 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы