(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN EN 60749:2000-02
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996); German version EN 60749:1999
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren (IEC 60749:1996); Deutsche Fassung EN 60749:1999
Отменен
Электронный (pdf)Печатное изданиеПечатная копия
199.51 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN