(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50433-1:1976-12
Testing of semi-conducting inorganic materials; determining the orientation of single crystals by means of X-ray diffraction
Материалы полупроводниковые неорганические. Определение ориентации монокристаллов при помощи рентгенографии
Prüfung halbleitender anorganischer Stoffe; Bestimmung der Orientierung von Einkristallen mit einem Röntgengoniometer
3 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
41.28 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы