(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50447:1995-04
Testing of materials for semiconductor technology - Contactless determination of the electrical sheet resistance of semiconductor layers with the eddy-current method
Материалы для полупроводниковой технологии. Бесконтактное измерение электрического поверхностного сопротивления полупроводниковых слоев методом вихревых токов
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Kontaktlose Messung des elektrischen Flächenwiderstandes von Halbleiterschichten mit dem Wirbelstrom-Verfahren
2 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
73.38 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы