(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50441-1:1981-02
Testing of semiconductive inorganic materials; determination of the geometric dimensions of semiconductor slices; measurement of thickness
Prüfung halbleitender anorganischer Stoffe; Messung der geometrischen Dimensionen von Halbleiterscheiben; Messung der Dicke
2 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
58.64 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы