(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50443-1:1988-07
Testing of materials for use in semiconductor technology; detection of crystal defects and inhomogeneities in silicon single crystals by X-ray topography
Кремний для изготовления полупроводников. Определение дефектов и неоднородности кристаллов с помощью рентгенотопографии
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Nachweis von Kristalldefekten und Inhomogenitäten in Halbleiter-Einkristallen mittels Röntgentopographie; Silicium
10 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
119.74 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы