(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
IEC 60333:1983 ed2.0
Test procedures for semiconductor charged-particle detectors
69 стр.
Заменен
Печатная копияЭлектронный (pdf)
327.60 CHF (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/IEC
ICS:
17.240 Radiation. Including dosimetry / Измерения параметров излучений