(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
IEC 60749-17:2003 ed1.0
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation
11 стр.
Заменен
Электронный (pdf)Печатная копия
32.76 CHF (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/IEC
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Описание
Used to determine the susceptibility of semiconductor devices to degradation in the neutron environment. Applicable to integrated circuits and discrete semiconductor devices.