(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
IEC 60749:1996/AMD1:2000 ed2.0
Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
21 стр.
Заменен
Электронный (pdf)Печатная копия
65.52 CHF (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/IEC
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом