(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
IEC 62047-10:2011/COR1:2012 ed1.0
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials
0 стр.
Действует
Печатная копияЭлектронный (pdf)
0.00 CHF (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/IEC
ICS:
31.080.99 Other semiconductor devices / Полупроводниковые приборы прочие