(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
IEC 62374-1:2010 ed1.0
Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
32 стр.
Действует
Электронный (pdf)Печатная копия
114.66 CHF (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/IEC
ICS:
31.080.99 Other semiconductor devices / Полупроводниковые приборы прочие
Описание
IEC 62374-1:2010 describes a test method, test structure and lifetime estimation method of the time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers applied in semiconductor devices.