(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
IEC 62374:2007 ed1.0
Semiconductor devices - Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
43 стр.
Действует
Печатная копияЭлектронный (pdf)
229.32 CHF (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/IEC
ICS:
31.080.99 Other semiconductor devices / Полупроводниковые приборы прочие
Описание
Provides a test method of Time Dependent Dielectric Breakdown(TDDB) for gate dielectric films on semiconductor devices and a product lifetime estimation method of TDDB failure