(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
IEC 62416:2010 ed1.0
Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors
20 стр.
Действует
Электронный (pdf)Печатная копия
65.52 CHF (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/IEC
ICS:
31.080.30 Transistors / Транзисторы
Описание
IEC 62416:2010 describes the wafer level hot carrier test on NMOS and PMOS transistors. The test is intended to determine whether the single transistors in a certain (C)MOS process meet the required hot carrier lifetime.