(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
IEC 62899-503-1:2020 ed1.0
Printed electronics - Part 503-1: Quality assessment - Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor
15 стр.
Действует
Печатная копияЭлектронный (pdf)
114.66 CHF (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/IEC
ICS:
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы31.080.30 Transistors / Транзисторы
Описание
IEC 62899-503-1:2020(E) specifies a test method for displacement current measurement (DCM) for printed thin film transistors (TFTs) or organic thin film transistors (OTFTs).