(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
IEC PAS 62205:2000 ed1.0
High temperature storage life
3 стр.
Заменен
Электронный (pdf)Печатная копия
16.38 CHF (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/IEC
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Описание
Aims at determining the effect on solid state electronic devices of storage at elevated temperature without electrical stress applied. This test is considered destructive.