(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
IEC PAS 62207:2000 ed1.0
Hermeticity
16 стр.
Заменен
Электронный (pdf)Печатная копия
131.04 CHF (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/IEC
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Описание
Aims at determining the effectiveness of the seal of hermetically sealed solid-state devices.The seal tests are considered nondestructive.