(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
ISO 14237:2010
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Определение атомной концентрации бора в кремнии с помощью однородно легированных материалов
26 стр.
Действует
Электронный (pdf)
148.68 CHF (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/ISO
ICS:
71.040.40 Chemical. Including analysis of gases and surface chemical analysis / Химический анализ. Включая анализ газов