(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
ISO 17862:2013
Surface chemical analysis -- Secondary ion mass spectrometry -- Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности времяпролетных масс-анализаторов для подсчета отдельных ионов
32 стр.
Действует
Электронный (pdf)
148.68 CHF (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/ISO
ICS:
71.040.40 Chemical. Including analysis of gases and surface chemical analysis / Химический анализ. Включая анализ газов