(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
ISO 20263:2017
Microbeam analysis -- Analytical electron microscopy -- Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials
Анализ с использованием микропучка. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения положения границы раздела в изображении поперечного сечения слоистых материалов
52 стр.
Действует
Электронный (pdf)
199.08 CHF (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/ISO
ICS:
37.020 Optical. Including microscopes, telescopes, binoculars, optical materials, optical components and optical systems / Оптическое оборудование. Включая микроскопы, телескопы и т.д.71.040.50 Physicochemical. Including spectrophotometric and chromatographic analysis / Физико-химические методы анализа. Включая спектрофотометрический и хроматографический анализы