This document specifies a low-voltage test method for detecting and locating defects (pores, cracks or pop-offs) that occur in enamel coatings of corrugated and/or undulated profiles and that extend down to the metal base.
The method is based on colour effects (optical method) and is applicable to the precise detection of defects and their exact position. It can be used for non-flat, more profiled shapes such as corrugated or undulated surfaces.
Dieses Dokument legt ein Niedrigspannungsprüfverfahren zum Nachweis und Lokalisieren von Fehlstellen (Poren, Rissen oder Abplatzungen) in Email-Überzügen auf gewellten und/oder gesickten Profilen, die bis zum Grundmaterial durchgehen, fest.
Das Verfahren beruht auf Farbeffekten (optisches Verfahren) und gilt für den präzisen Nachweis von Fehlstellen und ihrer exakten Lage. Es kann für nicht ebene kompliziertere Formen, beispielsweise gewellte oder gesickte Flächen angewendet werden.