(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
OVE EN 60749-28:2018-03
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level (IEC 60749-28:2017) (english version)
Действует
Печатная копияПечатное издание
397.55 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/ON
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом