(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
OVE EN 60749-4:2017-12
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (IEC 60749-4:2017) (english version)
Действует
Печатная копияПечатное издание
92.39 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/ON
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом