Ключевые слова:
Informationstechnologie, Telekommunikation, Elektronik, Halbleiter, Halbleiterbauelement, Bauelement (Elektronik), mechanische Prüfung, mechanisches Prüfverfahren, klimatische Prüfung, klimatisches Prüfverfahren, Schaltung, Beanspruchung, Überspannung, Latch-up, Prüfverfahren, Kenngröße, Fehlerkriterium, Produkt, Zuverlässigkeit, CMOS, Klassifikation, Begriffe, Terminologie, Prüfklasse, Prüfgrad, Prüfeinrichtung, Prüfhilfsmittel, Prüfdurchführung, Beurteilungskriterien