(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
ÖVE/ÖNORM EN 60749-30:2012-02
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (IEC 60749-30:2005 + A1:2011) (english version)
Действует
Печатная копияПечатное издание
189.19 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/ON
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Ключевые слова:
Halbleiter, Halbleiterbauelement, Prüfverfahren, Prüfung, klimatische Prüfung, mechanische Prüfung, Bauelement, Zuverlässigkeit, Zuverlässigkeitsprüfung, hermetisch, oberflächenmontierbar, Informationstechnologie, Telekommunikation, Elektronik, SMD, Vorbehandlung, Qualifikationsprüfung, Prüfeinrichtung, Prüfhilfsmittel, Prüfdurchführung, Durchführung