(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
ÖVE/ÖNORM EN 60749-32:2011-03
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced) (IEC 60749-32:2002 + A1:2010) (english version)
Действует
Печатная копияПечатное издание
69.95 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/ON
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Ключевые слова:
Halbleiterbauelement, Halbleiter, mechanisches Prüfverfahren, klimatisches Prüfverfahren, Prüfverfahren, Entflammbarkeit, Bauelement, Kunststoffgehäuse, Elektrotechnik, Elektronik, Telekommunikation, Informationstechnik, Prüfung