(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
ÖVE/ÖNORM EN 62047-22:2015-06
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates (IEC 62047-22:2014) (english version)
Действует
Печатная копияПечатное издание
92.39 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/ON
ICS:
01.080.99 Other graphical symbols / Графические обозначения прочие, 31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом, 31.220.01 Electromechanical components in general / Электромеханические компоненты в целом