(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
ÖVE/ÖNORM EN 62047-8:2012-02
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films (IEC 62047-8:2011) (english version)
Действует
Печатная копияПечатное издание
189.19 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/ON
ICS:
31.080.99 Other semiconductor devices / Полупроводниковые приборы прочие
Ключевые слова:
Halbleiterbauelement, Halbleiter, Bauelement, Mikrosystemtechnik, Streifen-Biege-Prüfverfahren, Messung, Zugbeanspruchung, Zugbeanspruchungsmerkmale, dünne Schicht, Informationstechnologie, Telekommunikation, Elektronik, Mikroproben, Prüfverfahren, Begriffe, Terminologie, Prüfeinrichtung, Prüfdurchführung, Analyse, Prüfbericht