(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
ÖVE/ÖNORM EN 62415:2011-01
Semiconductor devices - Constant current electromigration test (IEC 62415:2010) (english version)
Действует
Печатная копияПечатное издание
92.39 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/ON
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Ключевые слова:
Halbleiter, Halbleiterbauelement, Prüfung, Bauelement, Prüfverfahren, Elektromigration, Elektrotechnik, Informationstechnik, Telekommunikation, Elektronik, Symbol, Begriffe, Terminologie, Stromdichte, Grundlage, Verfahren, Stichprobenumfang, Prüfstruktur, Leiter, Testelementgruppe, Stromanschluss, Spannungsanschluss, Abbildung, Prüfbedingung, Ausfallkriterium, Datenanalyse, Ausfallwahrscheinlichkeit, Zeit, Aktivierungsenergie, Literaturhinweis