(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
ÖVE/ÖNORM EN 62417:2011-01
Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs) (IEC 62417:2010) (english version)
Действует
Печатная копияПечатное издание
62.57 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/ON
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Ключевые слова:
Halbleiterbauelement, Halbleiter, Leiter, Prüfverfahren, Ion, Feldeffekttransistor, Metall, Oxid, Elektrotechnik, Elektronik, Informationstechnik, Telekommunikation, Akronym, Symbol, Beschreibung, Wafer, Prüfung, Prüfeinrichtung, Teststruktur, Stichprobenumfang, Beanspruchungsbedingung, elektrisches Feld, Spannung, Bauelement, Temperatur, Ausfallkriterium, Fehlerkriterium, Prüfaufzeichnung