(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50438-2:1982-08
Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurty content in silicon by infrared absorption; carbon
Материалы полупроводниковые. Определение содержания примесей в кремнии методом инфракрасной абсорбции. Углерод
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung des Verunreinigungsgehaltes in Silicium mittels Infrarot-Absorption; Kohlenstoff
5 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
71.26 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы