(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS EN 60444-2:1997
Measurement of quartz crystal unit parameters. Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units
20 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
184.46 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.140 Piezoelectric devices / Пьезоэлектрические и диэлектрические приборы
Ключевые слова:
Crystal resonators, Resonators, Piezoelectric devices, Dielectric devices, Quartz, Capacitance, Wave properties and phenomena, Capacitance measurement, Errors, Electrical wave measurement, Electrical measurement, Dielectric properties, Phase measurement (electric), Resonant frequency, Frequency measurement, Frequencies, Circuits, Circuit networks, Mathematical calculations