(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS EN 60749-34:2010
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Power cycling
12 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
154.22 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Ключевые слова:
Semiconductor devices, Stress analysis, Electrical testing, Power losses, Thermal stress, Mechanical testing, Electronic equipment and components, Climate, Low voltage, Stress, Integrated circuits, Environmental testing, Destructive testing