Вход
Логин:
Пароль:
Запомнить меня
Отменить
Восстановление пароля
(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
Обозначение
Наименование
Действующие
Расширенный поиск
Запросить
стандарт
ФИО:
Организация:
Должность:
Город, адрес:
Телефон:
E-mail:
Откуда вы о нас узнали:
Запрос информации:
This site is protected by reCAPTCHA and the Google
Privacy Policy
and
Terms of Service
apply.
О компании
Каталог продукции
API
ARINC
400 Series
500 Series
600 Series
700 Series
800 Series
ASME
ASNT
ASTM
AWS
AWWA
BSI
DIN
IEC
ISO
MSS
NACE
NFPA
ONORM
SAE
Тематика сопутствующей литературы
Тематика стандартов
SSPC
Популярные стандарты
Контакты
BS EN 62047-26:2016
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Description and measurement methods for micro trench and needle structures
32 стр.
Действует
Печатная копия
Печатное издание
Англ.:
299.38£
299.38 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.99 Other semiconductor devices / Полупроводниковые приборы прочие
Ключевые слова:
Thin films, Semiconductor devices, Test equipment, Electronic equipment and components, Test specimens, Integrated circuits, Tensile testing, Semiconductor technology, Electromechanical devices
Ссылочные документы:
ISO 3274:1996
BS EN ISO 3274:1997
BS ISO 129-1:2018
ISO/IEC Guide 98-3:2008
GUM:1995
На это издание ссылаются:
© 2024 ООО «Нормдокс»
Карта сайта
www.normdocs.ru
тел.: (812) 309-78-59 (многоканальный)
тел.: (495) 223-46-76 (прямой московский номер)