(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS ISO 17470:2014
Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
22 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
184.46 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
71.040.99 Other standards related to analytical chemistry / Аналитическая химия, прочие аспекты
Ключевые слова:
Electron beams, Microanalysis, Chemical analysis and testing, X-ray fluorescence spectrometry, Spectrophotometry, Spectroscopy, Instrumental methods of analysis, Dispersion (waves), Wavelengths, Electron microscopes