(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS ISO 18114:2003
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
14 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
154.22 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
71.040.40 Chemical. Including analysis of gases and surface chemical analysis / Химический анализ. Включая анализ газов
Ключевые слова:
Homogeneity, Mass spectrometry, Spectroscopy, Chemical composition, Ions, Secondary, Chemical analysis and testing, Test methods, Surface chemistry