(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50950:1984-10
Measurement of coating thickness; microscopic measurement of coating thickness; cross section method
Messung von Schichtdicken; Mikroskopische Messung der Schichtdicke; Querschliff-Verfahren
4 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
58.64 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
17.040.20 Properties of surfaces / Свойства поверхностей