(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50454-1:2000-07
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of dislocations in monocrystals of III-V-compound semi-conductors - Part 1: Gallium arsenide
Монокристаллы Ш-V сложных полупроводников. Определение плотности дислокационных ямок травления. Часть 1. Арсенид галлия
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung der Versetzungsätzgrubendichte in Einkristallen von III-V-Verbindungshalbleitern - Teil 1: Galliumarsenid
9 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
95.66 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы