(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
IEC 62528:2007 ed1.0
Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits
125 стр.
Действует
Электронный (pdf)Печатная копия
540.54 CHF (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/IEC
ICS:
31.200 Integrated. Including electronic chips, logical and analogue microstructures / Интегральные схемы. Микроэлектроника. Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры
Описание
Defines a mechanism for the test of core designs within a system on chip (SoC).This mechanism constitutes a hardware architecture and leverages the core test language (CTL)to faciliate communication between core designers and core integrators.