(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
ASTM F121-83
Test Method for Interstitial Atomic Oxygen Content of Silicon by Infrared Absorption
0 стр.
Заменен
Электронный (pdf)Печатное издание
0.00 $ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/ASTM
ICS:
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы
Описание