(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
ASTM F143-73(1978)
Method of Test for Thickness of Epitaxial Layers of Silicon by Measurement of Stacking Fault Dimension (Withdrawn 1985)
0 стр.
Отменен
Электронный (pdf)Печатное издание
0.00 $ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/ASTM
Описание