(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
ASTM F1996-00
Standard Test Method for Silver Migration for Membrane Switch Circuitry
2 стр.
Заменен
Электронный (pdf)Печатное издание
81.12 $ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/ASTM
ICS:
77.120.99 Other non-ferrous metals and their alloys / Цветные металлы и их сплавы прочие
Сборник (ASTM):
10.04 Electronics; Declarable Substances in Materials; 3D Imaging Systems; Additive Manufacturing Technologies / Электроника; Декларируемые вещества в материалах; Системы 3D-визуализации; Аддитивные технологии производства
Тематика:
Electronics
Описание
Область применения

1.1 This test method is used to determine the susceptibility of a membrane switch to the migration of the silver between circuit traces under dc voltage potential.

1.2 Silver migration will occur when special conditions of moisture and electrical energy are present.

Ключевые слова:
membrane switch; silver dendrite; silver migration