(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
ASTM P197
Test Method for Interstitial Oxygen Content of Silicon Slices Polished on Both Sides by Computer-Assisted Infrared Spectrophotometry (Withdrawn 1988)
0 стр.
Отменен
По запросу
0.00 $ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/ASTM
Описание