(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
17/30355776 DC
BS EN 62047-34. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Part 34. Test method for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer
17 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
30.24 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.99 Other semiconductor devices / Полупроводниковые приборы прочие
Ключевые слова:
Electronic equipment and components, Terminology, Semiconductor devices, Electromechanical devices, Semiconductor technology, Integrated circuits, Vocabulary