(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
18/30319114 DC
BS ISO 20171. Microbeam analysis. Scanning electron microscopy. Tagged image file format for Scanning electron microscopy(TIFF/SEM)
46 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
30.24 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
35.240.70 IT applications in science. Including digital geographic information / Применение информационных технологий в науке. Включая цифровую географическую информацию, 37.020 Optical. Including microscopes, telescopes, binoculars, optical materials, optical components and optical systems / Оптическое оборудование. Включая микроскопы, телескопы и т.д.
Ключевые слова:
Electron beams, Magnification, Microscopes, Control samples, Electron optics, Calibration, Optical phenomena, Accuracy, Electron microscopes, Scanning electron microscopes, Optical instruments